为探究电磁信号泄漏的秘密信息，将多比特差分电磁分析(M-DEMA)应用于密码芯片的电磁旁路攻击。 在分析CMOS 电路直接电磁辐射机理的基础上，设计并搭建了DES 微控制器(AT89C52)密码系统的近场电磁辐射信 号采集与分析平台。在详细阐释M-DEMA 攻击方法的同时，完成了针对该密码系统的攻击实验及实验效果分析， 实验结果表明该方法是有效的，与传统DEMA 方法相比，该方法能用更少的样本成功恢复DES 密码芯片的密钥， 并能提高攻击成功率。